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產品簡單介紹
粘度/示差檢測器
BI-2010/2020
BI-2010粘度檢測器采用毛細管全橋式設計，具有高靈敏、低展寬、低噪音和節約測量時間等特點，其溫控可從室溫達到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度，對樣品進行同樣校正，從而得到真實分子量和結構信息。特征粘度的檢測結合Mark－Houwink曲線，得到分子機構如枝接密度，共聚組成信息。
示差折射儀
BI-DNDC
BI-DNDC示差折射儀按測量方式區分：在靜態方式下是測量聚合物溶液dn/dc值的專用儀器。采用注射器（2～2.5mL）直接進樣，樣品溶液濃度范圍0.1～10mg/mL。在動態方式下作為凝膠色譜系統的在線示差檢測器。采用進樣閥進樣，由蠕動泵或HPLC泵驅動。
多角度激光光散射儀
BI-MwA（絕*對分子量測定）
基于多年光散射技術和經驗開發研制的BI-MwA多角度激光光散射儀（絕.對分子量測定）、對光散射儀器，解決了絕.對分子量測定中存在的諸多問題，使得分子量表征更加客觀與可靠。
圓盤式離心/沉降粒度儀
BI-DCP/BI-XDC
BI-DCP/ BI-XDC是基于經典的離心/沉降原理，通過高精度的數字式電機控制，是具有統計意義的粒度儀中分辨率、準確率很高的測量儀器。廣泛應用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制方面。
廣角動靜態激光光散射儀
BI-200SM
廣角激光光散射儀采用TurboCorr數字相關器，通過動態光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過靜態光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第.二維里系數。經國內外眾多實驗室使用，證明BI-200SM是研究聚合物、膠束、微乳液以及復雜溶液等體系很好的測試儀器。
亞微米/納米激光粒度儀
BI-90Plus
90Plus亞微米/納米激光粒度儀基于動態光散射原理，是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。 動態光散射原理： 由于顆粒在懸浮液中的布朗運動，使得光強隨時間產生脈動。采用數字相關器技術處理脈沖信號，可以得到顆粒運動的擴散信息后，進而利用Stokes－Einstein方程計算得出顆粒粒徑及其分布。
納米激光粒度儀Zeta電位分析儀
90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀
90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀是能夠精準測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術，比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高1000倍。
納米激光粒度儀Zeta電位分析儀
Omni多角度納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀
Omni多角度納米激光粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，硬件PALS技術解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精準測量，是功能強大的納米激光粒度儀與Zeta電位分析儀。
滬公網安備 31010402004488號
