BI-DCP/ BI-XDC是基于經典的離心/沉降原理，通過高精度的數字式電機控制，是具有統計意義的粒度儀中分辨率、準確率很...
|
廣角激光光散射儀采用TurboCorr數字相關器，通過動態光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過靜態光散射...
|
90Plus亞微米/納米激光粒度儀基于動態光散射原理，是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。
動態光散射原...
|
90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀是能夠精準測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的...
|
Omni多角度納米激光粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Anal...
|
表面缺陷檢測與控制PhoeniX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測設備。表面缺陷檢測與控制PhoeniX...
|
表面缺陷檢測與控制ScrappiX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測設備。表面缺陷檢測與控制Scrapp...
|
表面缺陷檢測與控制MatliX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測設備。表面缺陷檢測與控制MatliX可...
|
X射線衍射儀，可變平行光束和聚焦幾何尺寸，可變粉末樣品臺和Eulerian Cradle。具有0.4度狹縫準直器的平行光束檢測器。...
|
佳航JH300／JH500 全自動折光儀配備高性能線陣CCD感光部件，通過高速、高精度的信號采集和分析處理技術，配有半導體帕...
|
儀邁Insmark的IR200系列手持式折光儀，時尚不同的造型，與眾不同的液晶顯示，屏幕導航功能，實現無紙化操作。
IR200系...
|
儀邁Insmark的IR100系列智能折光儀，精度達到高水平0.00001，友好的中文彩屏界面及中英文輸入功能，符合GLP、國際糖度...
|
儀邁Insmark的IP-digi600系列數字旋光儀，分辨率雙精度可選；GLP模式，數據溯源，電子簽名；IP-digi600系列數字旋光儀...
|
儀邁Insmark IP-digi300系列數字旋光儀，技術指標與模擬旋光儀相比很多提升。8″彩色觸摸屏，友好的操作界面。提供外部...
|
儀邁Insmark IP100系列智能旋光儀，7''彩色觸摸屏，符合GLP、藥典，在傳統的技術平臺上，優化器件選擇、制造工藝、界面...
|
SAXSpace納米結構分析儀(X-射線結構分析）使用小角和廣角X-射線散射(SAXS/WAXS) 方法研究納米結構，研究對象包括蛋白質...
|
Abbemat 200簡易型全自動折光儀，該款簡易型全自動折光儀不僅具備了所有的基本功能，簡潔直觀，開箱即用，而且幾乎涵蓋...
|
Abbemat 300/500 高性能和高.端模塊化系列折光儀日常分析和質量控制的解決方案，而Abbemat 350/550 高性能和高.端模塊...
|
高.端多功能系列折光儀是專為惡劣環境和特殊應用如高溫，多波長或垂直操作以避免在棱鏡上形成沉淀等而設計的。
為了防...
|
三維尺寸及表面缺陷檢測儀是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測設備。可以檢測產品的表面，控制主...
| |
