Park原子力顯微鏡產(chǎn)品特性

Park XE15具備多個(gè)特殊功能，是共享實(shí)驗(yàn)室處理各類樣品、研究員進(jìn)行多變量實(shí)驗(yàn)、失效分析師研究晶片等的好選擇。

MultiSample?（多重采樣^TM）掃描器帶來便捷樣品測量

多樣品一次性自動(dòng)成像

特殊設(shè)計(jì)的多樣品夾頭，*多可承載16個(gè)獨(dú)立樣品

全自動(dòng)XY樣品載臺，行程范圍達(dá)200 mm x 200 mm。

無軸間耦合提高掃描精度

兩種獨(dú)立閉環(huán)XY和Z平板式掃描

平板式和線性XY掃描可達(dá)100μm x 100μm，且殘余壓彎小

整個(gè)掃描范圍內(nèi)的異面移動(dòng)小于2nm

強(qiáng)力掃描器達(dá)25μm Z掃描范圍

精準(zhǔn)的高度測量

Non-Contact?（真正非接觸^TM）模式延長針尖使用壽命、改善樣品保存及精度

其Z掃描頻寬是壓電管基礎(chǔ)系統(tǒng)的10倍

非接觸式可降低針尖磨損、延長使用壽命

成像分辨率高于同類原子力顯微鏡

降低樣品干擾，提高掃描精度

提供較佳用戶體驗(yàn)

開放式側(cè)面接入，提高樣品及針尖更換效率

預(yù)對準(zhǔn)的針尖安裝和軸上俯視法可簡單直觀地實(shí)現(xiàn)激光對準(zhǔn)

燕尾鎖封片方便鏡頭拆卸

界面帶自動(dòng)設(shè)置功能，方便用戶使用

多種模式與選項(xiàng)

綜合性測量模式及特性設(shè)置

多種可選配件及更新，擴(kuò)展性能優(yōu)越

為缺陷分析提供先進(jìn)電氣測量

產(chǎn)品特點(diǎn)

 100um x 100 um掃描范圍的XY柔‘性導(dǎo)向掃描器

XY掃描器含系統(tǒng)二維彎曲及強(qiáng)力壓電堆疊，可使極小平面外移動(dòng)形成較大的正交運(yùn)動(dòng)，并能快速響應(yīng)，實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)的樣品納米級掃描。

 柔性導(dǎo)向強(qiáng)力Z掃描器

在強(qiáng)力壓電堆疊的驅(qū)動(dòng)及彎曲結(jié)構(gòu)的引導(dǎo)下，其硬度允許掃描器高速豎直運(yùn)動(dòng)，較傳統(tǒng)原子力顯微鏡掃描器更加高速。*大Z型掃描范圍搭配遠(yuǎn)程Z掃描器（選配）可延長12μm至25μm。

 滑動(dòng)連接的超亮二極管頭

 通過將原子力顯微鏡頭沿楔形軌道滑動(dòng)，可輕松將其插入或取出。低相干的超發(fā)光二極管頭可實(shí)現(xiàn)高反射表面的精準(zhǔn)成像和力-矩光譜的精準(zhǔn)測量。超亮二極管頭的波長幫助減輕干擾問題，因此用戶在可見光譜實(shí)驗(yàn)中也可使用本產(chǎn)品。

 多樣品夾頭

特殊設(shè)計(jì)的多樣品夾頭，*多可承載16個(gè)獨(dú)立樣品，由多重采樣掃描器自動(dòng)按順序掃描。特殊的夾頭設(shè)計(jì)為接觸樣品針尖預(yù)留了邊通道。

選配編碼器的XY自動(dòng)樣品載臺

自動(dòng)集成XY載臺可輕松并精準(zhǔn)控制樣品的測量位置。XY樣品載臺的行程范圍可配置為150 mm x 150 mm或200 mm x 200 mm。若搭配自動(dòng)載臺使用編碼器，可提高樣品定位的精度和重復(fù)性。編碼XY載臺工作時(shí)分辨率為1 μm，重復(fù)率為2 μm。編碼Z載臺的分辨率為0.1 μm，重復(fù)率為1 μm。

 高分辨率數(shù)碼變焦感光元件攝像頭

高分辨率數(shù)碼感光元件攝像頭利用直接同軸光學(xué)，具備變焦功能，無論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質(zhì)量。

 垂直對齊的自動(dòng)Z載臺及聚焦載臺

Z載臺和聚焦載臺可將懸臂嚙合到樣品表面上，同時(shí)確保用戶視野清晰穩(wěn)定。聚焦載臺是由軟件控制自動(dòng)運(yùn)行的，因此滿足透明樣品及液態(tài)元件應(yīng)用所需精度。

 彎曲基底解耦XY和Z掃描器

Z掃描器與XY掃描器完全解耦。XY掃描器在水平面上移動(dòng)樣品，同時(shí)Z掃描器豎直移動(dòng)探針。

此配置以極小異面移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)了平板式XY掃描。此XY掃描同時(shí)還具有高正交性與線性。

 底噪聲

為探測*小樣品的特性，幫助快速運(yùn)動(dòng)平面成像，Park Systems設(shè)計(jì)了業(yè)內(nèi)0.5A以下的*低本底噪聲標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。使用“零掃描”探測本地噪聲數(shù)據(jù)。

 真正非接觸模式延長針尖使用壽命

 XE系列原子力顯微鏡已成功搭配強(qiáng)力Z掃描系統(tǒng)獨(dú)有的真正非接觸模式。真正非接觸模式下，使用的是相吸而非相排斥的內(nèi)部原子力。 

真正非接觸模式因此成功地保持了針尖樣品納米級間距，改善了原子力顯微鏡圖像，保持針尖的銳利，因此有效延長了針尖使用壽命。

 預(yù)對準(zhǔn)懸臂支撐

預(yù)先安裝在探針支撐上，因此不需要嚴(yán)格對齊激光束。

 高分辨率的直接同軸光學(xué)元件

用戶可直接俯視觀看樣品，操控樣品表面，從而很容易就能找到目標(biāo)區(qū)域。高分辨率數(shù)碼攝像頭具備變焦功能，無論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質(zhì)量。

 帶DSP控制芯片的XE控制電子元件

原子力顯微鏡發(fā)出的納米級信號將由高性能Park XE電子元件控制并處理。Park XE電子元件為低噪聲設(shè)計(jì)，配備高速處理單元，可成功實(shí)現(xiàn)真正非接觸?模式，是納米級成像及電壓電流精準(zhǔn)測量的理想選擇。 

 - 600 MHz、4800 MIPS速度的高性能處理單元

- 低噪聲設(shè)計(jì)，適合電壓電流精準(zhǔn)測量

-通用系統(tǒng)，各SPM技術(shù)均可得到應(yīng)用

- 外部信號接入模塊，存取原子力顯微鏡輸入/輸出信號

- *多16個(gè)數(shù)據(jù)成像

- *大數(shù)據(jù)尺寸：4096 x 4096像素

- 16位ADC/DAC，速度達(dá)500 kHz

- TCP/IP連接，隔離計(jì)算機(jī)接出電噪